［本站讯］为树牢师生立异认识，营建稠密学术气氛，紧跟学术前沿，掌握行业动态，集成攻关大渠道与晶体资料国家要点试验室一起建立“育晶论坛”系列活动。每期论坛约请领域内出色专家学者展开主题讲座，欢迎各位教师、同学经过线上线下方法参会。
中科院上海光学与精细机械研讨所博士，现任合肥知常光电科技有限公司董事长兼首席科学家，超润滑外表无损检测安徽省要点试验室主任。从事激光与资料作用、精细光学检测技能研讨与开发作业30余年。曾任美国能源部劳伦斯—利弗莫尔国家试验室高档研讨员、美国东密西根大学物理系教授兼激光物理试验室主任等职。宣布学术论文120多篇，具有国内外专利100余项，参加编撰学术专著一部。
晶体的缺点是限制资料功能一个非常重要的要素，因而缺点检测是提高晶体资料功能、保证质量的关键环节。缺点是在晶体资料成长和加工过程中发生的，缺点的品种和形状多种多样，对晶体的缺点完成全面精确的点评与剖析是一个应战。本陈述介绍了常用的晶体资料缺点光学检测技能，首要包含激光散射扫描成像技能、三维层析扫描成像技能、光热扫描显微成像技能、激光/荧光共聚集显微成像技能等；并扼要介绍这些技能运用于不同光学晶体的实践检测事例。
【作者：刘莹莹来自：新一代半导体资料研讨院修改：新闻网作业室责任修改：蒋晓涵 】
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